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    重庆时时彩彩民论坛: 电子器件在板卡图中的突显方法及系统.pdf

    关 键 词:
    电子器件 板卡 中的 突显 方法 系统
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    摘要
    申请专利号:

    CN201611177687.1

    申请日:

    2016.12.19

    公开号:

    CN106803249A

    公开日:

    2017.06.06

    当前法律状态:

    实审

    有效性:

    审中

    法律详情: 实质审查的生效IPC(主分类):G06T 7/00申请日:20161219|||公开
    IPC分类号: G06T7/00(2017.01)I; G06T7/13(2017.01)I; G06T7/181(2017.01)I 主分类号: G06T7/00
    申请人: 广州视源电子科技股份有限公司
    发明人: 刘柏芳
    地址: 510530 广东省广州市黄埔区云埔四路6号
    优先权:
    专利代理机构: 北京清亦华知识产权代理事务所(普通合伙) 11201 代理人: 何世磊
    PDF完整版下载: PDF下载
    法律状态
    申请(专利)号:

    CN201611177687.1

    授权公告号:

    |||

    法律状态公告日:

    2017.06.30|||2017.06.06

    法律状态类型:

    实质审查的生效|||公开

    摘要

    本发明提供一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统,所述电子器件在板卡图中的突显方法包括:选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储;将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描;当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,将所述目标图像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。本发明中的电子器件在板卡图中的突显方法及系统,只需要完成一次选中动作,然后制作成器件样版图进行扫描,即可将所有对应的电子器件进行自动突显,而无需一一进行选中突显,提高了效率,且避免了出现漏突显的电子器件。

    权利要求书

    1.一种电子器件在板卡图中的突显方法,其特征在于,包括:
    选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域作为所述目标
    电子器件的器件样版图进行存储;
    将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描;
    当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,将所述目标图
    像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。
    2.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法,其特征在于,所述将所述器
    件样版图对整个所述板卡图进行扫描的步骤包括:
    获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域;
    将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。
    3.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法,其特征在于,所述将所述目
    标图像区域进行突显的步骤包括:
    获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息;
    根据所述所有边界点的坐标信息,从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参
    数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接,以生成所述目标图像区域的边框,
    所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。
    4.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法,其特征在于,在所述选中板
    卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的
    器件样版图进行存储的步骤之后,所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括:
    获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数,并将所述器件待测参数进行存
    储。
    5.根据权利要求4所述的电子器件在板卡图中的突显方法,其特征在于,所述电子器件
    在板卡图中的突显方法运用于一自动光学检测设备,在所述当检测到所述板卡图中存在与
    所述器件样版图一致的目标图像区域时,将所述目标图像区域进行突显,以将所有的所述
    目标电子器件在所述板卡图中进行突显的步骤之后,所述电子器件在板卡图中的突显方法
    还包括:
    提取所述器件待测参数;
    根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置,以得到在与所述板卡图对应的板卡中
    位置与所述目标图像区域对应的检测区域;
    将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。
    6.一种电子器件在板卡图中的突显系统,其特征在于,包括:
    图像存储???,用于选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图
    像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。
    图像扫描???,用于将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描;
    图像突显???,用于当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区
    域时,将所述目标图像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行
    突显。
    7.根据权利要求6所述的电子器件在板卡图中的突显系统,其特征在于,所述图像扫描
    ??榘ǎ?br />
    第一获取单元,用于获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图
    像区域;
    比较???,用于将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。
    8.根据权利要求6所述的电子器件在板卡图中的突显系统,其特征在于,所述图像突显
    ??榘ǎ?br />
    第二获取单元,用于获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息;
    边框生成单元,用于根据所述所有边界点的坐标信息,从预设边界点开始按照预设的
    连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接,以生成所述目
    标图像区域的边框,所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。
    9.根据权利要求6所述的电子器件在板卡图中的突显系统,其特征在于,所述电子器件
    在板卡图中的突显系统还包括:
    检测参数存储???,用于获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数,并将
    所述器件待测参数进行存储。
    10.根据权利要求9所述的电子器件在板卡图中的突显系统,其特征在于,所述电子器
    件在板卡图中的突显系统运用于一自动光学检测设备,所述电子器件在板卡图中的突显系
    统还包括:
    提取???,用于提取所述器件待测参数;
    检测区域生成???,用于根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置,以得到在与
    所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域;
    检测???,用于将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的
    器件进行检测。

    说明书

    电子器件在板卡图中的突显方法及系统

    技术领域

    本发明涉及自动光学检测技术领域,特别涉及一种电子器件在板卡图中的突显方
    法及系统。

    背景技术

    AOI(Automatic Optical Inspection,自动光学检测)是基于光学原理来对焊接
    生产中遇到的常见缺陷进行检测的技术,是液晶及微电子等行业广泛使用的测量手段,而
    AOI设备则是液晶及微电子等行业广泛使用的检测设备,AOI设备可用于在线检测PCB板卡,
    判断PCB板卡上的相关器件是否达到预设的参数。

    目前采用AOI设备在线对PCB板卡检测时,通常需要拍摄整个板卡的图片,然后在
    板卡图片中将所有待测电子器件各自所在的图像区域一一选中,使得所有待测电子器件各
    自所在的图像区域均在板卡图片中进行突显,间接使所有待测电子器件在板卡图片中进行
    突显,以制作成测试板式文件,然后AOI设备将根据测试板式文件当中突显的图像区域,自
    动在板卡中匹配出与突显的图像区域的位置对应的检测区域,然后对检测区域内的电子器
    件进行检测,从而实现对所有待测电子器件进行检测。

    然而,现有技术当中,目前在制作上述的测试板式文件时,通常是通过人工在板卡
    图片中将所有待测电子器件各自所在的图像区域进行一一选中,而一个板卡上可能会有上
    百个不同种类的电子器件,采用人工一个一个选中突显将费时费力,降低检测的效率,同时
    经常出现遗漏未被突显的器件,从而出现漏检测的电子器件,减低了检测的可靠性。

    发明内容

    基于此,本发明的目的是提供一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统,以实
    现对所有待测电子器件各自所在的图像区域在板卡图片中进行突显,进而实现将所有待测
    电子器件在板卡图片中进行突显。

    根据本发明实施例的一种电子器件在板卡图中的突显方法,包括:

    选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域作为所述
    目标电子器件的器件样版图进行存储;

    将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描;

    当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,将所述目
    标图像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

    另外,根据本发明上述实施例的一种电子器件在板卡图中的突显方法,还可以具
    有如下附加的技术特征:

    所述将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描的步骤包括:

    获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域;

    将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。

    所述将所述目标图像区域进行突显的步骤包括:

    获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息;

    根据所述所有边界点的坐标信息,从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预
    设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接,以生成所述目标图像区域的边
    框,所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。

    在所述选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域作
    为所述目标电子器件的器件样版图进行存储的步骤之后,所述电子器件在板卡图中的突显
    方法还包括:

    获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数,并将所述器件待测参数进
    行存储。

    所述电子器件在板卡图中的突显方法运用于一自动光学检测设备,在所述当检测
    到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,将所述目标图像区域进行
    突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显的步骤之后,所述电子器件
    在板卡图中的突显方法还包括:

    提取所述器件待测参数;

    根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置,以得到在与所述板卡图对应的板
    卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域;

    将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行
    检测。

    根据本发明实施例的一种电子器件在板卡图中的突显系统,包括:

    图像存储???,用于选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中
    的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。

    图像扫描???,用于将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描;

    图像突显???,用于当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图
    像区域时,将所述目标图像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中
    进行突显。

    另外,根据本发明上述实施例的一种电子器件在板卡图中的突显系统,还可以具
    有如下附加的技术特征:

    所述图像扫描??榘ǎ?br />

    第一获取单元,用于获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当
    前图像区域;

    比较???,用于将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。

    所述图像突显??榘ǎ?br />

    第二获取单元,用于获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息;

    边框生成单元,用于根据所述所有边界点的坐标信息,从预设边界点开始按照预
    设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接,以生成所
    述目标图像区域的边框,所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。

    所述电子器件在板卡图中的突显系统还包括:

    检测参数存储???,用于获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数,
    并将所述器件待测参数进行存储。

    所述电子器件在板卡图中的突显系统运用于一自动光学检测设备,所述电子器件
    在板卡图中的突显系统还包括:

    提取???,用于提取所述器件待测参数;

    检测区域生成???,用于根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置,以得到
    在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域;

    检测???,用于将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域
    内的器件进行检测。

    上述电子器件在板卡图中的突显方法及系统,通过将目标电子器件在板卡图当中
    所在的图像区域进行选中,然后制作成所述器件样版图进行存储,然后将所述器件样版图
    对整个所述板卡图进行扫描,当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图
    像区域时,将所述目标图像区域进行突显,从而能够将所述板卡图当中所有的所述目标电
    子器件进行自动突显,因此所述电子器件在板卡图中的突显方法及系统只需要完成一次选
    中动作,即可将所有对应的待测电子器件进行自动突显,而无需一一进行选中,提高了效
    率,且避免了出现漏突显的电子器件,同时由于选中之后将制作成所述器件样版图进行存
    储,以后都无需再对相同的电子器件进行人工选中突显,只需要调用对应的器件样版图,然
    后对板卡图进行扫描,即可将所有对应的电子器件进行突显。

    附图说明

    图1为本发明第一实施例中电子器件在板卡图中的突显方法的流程图。

    图2为本发明第二实施例中电子器件在板卡图中的突显方法的流程图。

    图3为图2中步骤S13的具体实施流程图。

    图4为将目标图像区域进行突显的具体实施的流程图。

    图5为本发明第一实施例中电子器件在板卡图中的突显系统的结构示意图。

    主要元件符号说明



    如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本发明。

    具体实施方式

    为了便于理解本发明,下面将参照相关附图对本发明进行更全面的描述。附图中
    给出了本发明的若干实施例。但是,本发明可以以许多不同的形式来实现,并不限于本文所
    描述的实施例。相反地,提供这些实施例的目的是使对本发明的公开内容更加透彻全面。

    需要说明的是,当元件被称为“固设于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上
    或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接
    到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、
    “右”以及类似的表述只是为了说明的目的。

    除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的
    技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具
    体的实施例的目的,不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相
    关的所列项目的任意的和所有的组合。

    请参阅图1,所示为本发明第一实施例中的电子器件在板卡图中的突显方法的流
    程图,包括步骤S01至S03。

    步骤S01,选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域
    作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。

    其中,所述板卡图为对一板卡进行拍照而来,因此所述板卡图当中存在多个电子
    器件,在所述步骤S01当中对所述目标电子器件所在的图像区域进行选中的方式可以为框
    选,即通过边框将所述目标电子器件所在的图像区域进行圈框。

    通常的,所有的器件样版图将存储到器件库当中,当需要使用时,直接从器件库当
    中调用对应的器件样版图,并且每个电子器件只需要制作一个对应的器件样版图,当下次
    需要对同个电子器件进行突显时,只需要调用对应的器件样版图即可。

    步骤S02,将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描。

    在所述步骤S02之前,还需要在器件库当中调用出所述器件样版图。

    其中,所述器件样版图将按照预设的扫描顺序对整个所述板卡图进行扫描,所述
    预设的扫描顺序为从上到下、从左往右的扫描方式,因此所述器件样版图能够对所述板卡
    图当中每个位置的图像进行匹配。

    可以理解的,将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描的过程其实就是将所
    述板卡图当中的所有不同位置的图像与所述器件样版图进行对比匹配的过程,因此所述步
    骤S02可以具体参照以下的步骤进行具体实施,首先获取所述板卡图当中在所述器件样版
    图当前扫描位置下的当前图像区域,即在所述板卡图当中获取与所述器件样版图的当前位
    置对应的图像区域,然后将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较,当所述当前图
    像区域与所述器件样版图的相识度高于预设阈值时,则认为所述当前图像区域与所述器件
    样版图一致。

    步骤S03,当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,
    将所述目标图像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

    需要指出的是,当目标图像区域与所述器件样版图的相识度高于预设阈值时,则
    代表检测到在所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域。

    结合所述步骤S02和所述步骤S03,所述目标图像区域为与所述器件样版图一致时
    的当前图像区域,即当比较出所述当前图像区域与所述器件样版图一致时,则检测到所述
    板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,且所述目标图像区域即为所述当
    前图像区域一致。

    可以理解的,通过所述步骤S03可以将所述板卡图当中所有的所述目标图像区域
    进行突显,由于所述器件样版图包括所述目标电子器件,而所述目标图像区域又与所述器
    件样版图一致,必然的,所述目标图像区域存在所述目标电子器件,因此将所述目标图像区
    域进行突显,其实就是将所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显,进而通过所述步骤
    S03可以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行进行。

    综上,上述电子器件在板卡图中的突显方法,通过将目标电子器件在板卡图当中
    所在的图像区域进行选中,然后制作成所述器件样版图进行存储,然后将所述器件样版图
    对整个所述板卡图进行扫描,当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图
    像区域时,将所述目标图像区域进行突显,从而能够将所述板卡图当中所有的所述目标电
    子器件进行自动突显,因此所述电子器件在板卡图中的突显方法及系统只需要完成一次选
    中动作,即可将所有对应的电子器件进行自动突显,而无需一一进行选中,提高了效率,且
    避免了出现漏框选的电子器件,同时由于选中之后将制作成所述器件样版图进行存储,以
    后都无需再对相同的电子器件进行人工框选,只需要调用对应的器件样版图,然后对板卡
    图进行扫描,即可将所有对应的电子器件进行突显。

    请参阅图2,所示为本发明第二实施例中电子器件在板卡图中的突显方法的流程
    图,所述电子器件在板卡图中的突显系统运用于一自动光学检测设备,所述电子器件在板
    卡图中的突显方法包括步骤S11至S17。

    步骤S11,选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并将选中的图像区域
    作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。

    步骤S12,获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数,并将所述器件待
    测参数进行存储。

    其中,所述器件待测参数包括需要对所述目标电子器件进行检测的项目和每个待
    测项目对应的合格参数,在对所述目标电子器件的器件样版图进行存储时,需要输入所述
    目标电子器件的待测参数,所述步骤S12将输入的参数进行获取并保存。

    步骤S13,将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描。

    其中,所述步骤S13的具体过程可参照图3当中的流程图进行具体实施,请查阅图
    3,所示为步骤S13的具体实施流程图,包括步骤S131至步骤S132。

    步骤S131,获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区
    域。

    步骤S132,将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。

    步骤S14,当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,
    将所述目标图像区域进行突显,以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

    其中,在所述步骤S14当中将所述目标图像区域进行突显的过程可参照图4中的流
    程图进行具体实施,请查阅图4,所示为将目标图像区域进行突显的具体实施的流程图,包
    括步骤S141至步骤S142。

    步骤S141,获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息。

    步骤S142,根据所述所有边界点的坐标信息,从预设边界点开始按照预设的连接
    顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接,以生成所述目标图
    像区域的边框,所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。

    可以理解的,根据所述步骤S141至所述步骤S142可知,所述步骤S141至所述步骤
    S142采用对所述目标图像区域进行框选的方式将所述目标图像区域进行突显,而这仅为所
    述目标图像区域突显的一种方式,在其它实施例当中,对所述目标图像区域进行突显的方
    式还可以为变色、闪烁或者动态等方式。

    需要指出的是,通过所述步骤S11至所述步骤S14可以将所有的目标器件各自所在
    的图像区域在所述板卡图当中一一进行突显,因此通过所述步骤S11至所述步骤S14可以完
    成对自动光学检测设备的测试板式文件的制作。因此后续的步骤S15至步骤步骤S17为所述
    自动光学检测设备进行检测的过程。

    步骤S15,提取所述器件待测参数。

    步骤S16,根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置,以得到在与所述板卡图
    对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域。

    其中,与所述板卡图对应的板卡是指所述板卡图是由拍摄所述板卡而来,因此根
    据所述板卡图与所述板卡的位置对应关系,即可在所述卡板上得到与所述目标图像区域的
    位置对应的检测区域。

    步骤S17,将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的
    器件进行检测。

    本发明另一方面,还提供一种电子器件在板卡图中的突显系统,请参阅图5,所示
    为本发明第一实施例中的电子器件在板卡图中的突显系统的结构示意图,包括图像存储模
    块11、图像扫描???2及图像突显???3。

    所述图像存储???1,用于选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域,并
    将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。

    所述图像扫描???2与所述图像存储???1电性连接,用于将所述器件样版图对
    整个所述板卡图进行扫描。

    所述所述图像突显???3与所述图像扫描???2电性连接,用于当检测到所述板
    卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,将所述目标图像区域进行框选。

    需要指出的是,所述图像扫描???2将使用OpenCV中的cv2.matchTemplate函数,
    此为成熟的公知算法,该算法的作用是当目标图像区域与所述器件样版图的相识度高于预
    设阈值时,则代表检测到在所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域。

    进一步地,所述图像扫描???2包括第一获取单元121及比较???22。

    所述第一获取单元121,用于获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位
    置下的当前图像区域;

    所述比较???22与所述第一获取单元121电性连接,用于将所述当前图像区域与
    所述器件样版图进行比较,当所述当前图像区域与所述器件样版图一致时,则表示检测到
    所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时,所述图像突显???3将所述
    当前图像区域作为所述目标图像区域进行突显。

    其中,当所述当前图像区域与所述器件样版图的相识度高于预设阈值时,则认为
    所述当前图像区域与所述器件样版图一致,即为所述目标图像区域。

    所述图像突显???3包括第二获取单元131及边框生成单元132:

    所述第二获取单元131,用于获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息。

    所述边框生成单元132与所述第二获取单元131电性连接,用于根据所述所有边界
    点的坐标信息,从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目
    标图像区域的所有边界点连接,以生成所述目标图像区域的边框,所述预设参数包括线条
    的颜色、形状及大小。

    进一步地,所述电子器件在板卡图中的突显系统还包括检测参数存储???4。

    所述检测参数存储???4,用于获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测
    参数,并将所述器件待测参数进行存储。

    进一步地,所述电子器件在板卡图中的突显系统运用于一自动光学检测设备,所
    述电子器件在板卡图中的突显系统还包括提取???5、检测区域生成???6及检测???br />17。

    所述提取???5,用于提取所述器件待测参数。

    所述检测区域生成???6与所述提取???5电性连接,用于根据所述目标图像区
    域在所述板卡图上的位置,以得到在对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区
    域。

    所述检测???7与所述检测区域生成???6电性连接,用于将所述自动光学检测
    设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。

    以上所述实施例仅表达了本发明的几种实施方式,其描述较为具体和详细,但并
    不能因此而理解为对本发明专利范围的限制。应当指出的是,对于本领域的普通技术人员
    来说,在不脱离本发明构思的前提下,还可以做出若干变形和改进,这些都属于本发明的保
    护范围。因此,本发明专利的?;し段вσ运饺ɡ笪?。

    关于本文
    本文标题:电子器件在板卡图中的突显方法及系统.pdf
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