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    重庆时时彩开户流程: 动态随机存取存储器的测试方法.pdf

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    动态 随机存取存储器 测试 方法
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    摘要
    申请专利号:

    CN200910308085.9

    申请日:

    2009.10.08

    公开号:

    CN102231286A

    公开日:

    2011.11.02

    当前法律状态:

    授权

    有效性:

    有权

    法律详情: 授权|||实质审查的生效IPC(主分类):G11C 29/00申请日:20091008|||公开
    IPC分类号: G11C29/00 主分类号: G11C29/00
    申请人: 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司; 鸿海精密工业股份有限公司
    发明人: 林金辉
    地址: 518109 广东省深圳市宝安区龙华镇油松第十工业区东环二路2号
    优先权:
    专利代理机构: 代理人:
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    法律状态
    申请(专利)号:

    CN200910308085.9

    授权公告号:

    102231286B||||||

    法律状态公告日:

    2014.03.26|||2011.12.14|||2011.11.02

    法律状态类型:

    授权|||实质审查的生效|||公开

    摘要

    一种动态随机存取存储器(DRAM)的测试方法,包括:将DRAM存储的测试程序复制到RAM;将DRAM的起始物理地址和结束物理地址分别存储于CPU内的第一寄存器和第二寄存器;将测试字组数据写入到DRAM的起始物理地址上;从DRAM的起始物理地址上读取该测试字组数据;比较并判断所读取的数据是否与写入的数据相同;若相同,则将起始物理地址加一固定值,以形成下一个起始物理地址;判断下一个起始物理地址是否小于结束物理地址;若小于,则将测试字组数据写入到下一个起始物理地址上,以继续测试;及若大于或等于,则结束测试程序。本发明可以对DRAM的所有区域进行全面的检测,且能提高测试结果的精确度。

    权利要求书

    1.一种动态随机存取存储器(Dynamic?Random?Access?Memory,
    DRAM)的测试方法,用于对DRAM进行全面检测,所述DRAM位于系统芯片(System?on?Chip,
    SoC)的外部,所述DRAM存储有测试程序,所述SoC包括中央处理器(CPU)及随机存取存储
    器(RAM),所述CPU包括有多个寄存器,其特征在于,所述方法包括:
    步骤(a):将所述DRAM存储的测试程序复制到所述RAM;
    步骤(b):将所述DRAM的起始物理地址存储于所述CPU内的第一寄存器;
    步骤(c):将所述DRAM的结束物理地址存储于所述CPU内的第二寄存器;
    步骤(d):将测试字组数据写入到所述CPU内的第一寄存器所存储的所述DRAM的起始物
    理地址上;
    步骤(e):从所述DRAM的起始物理地址上读取所述测试字组数据;
    步骤(f):比较并判断从所述DRAM的起始物理地址上所读取的测试字组数据是否与所写
    入的测试字组数据相同;
    步骤(g):若相同,则将所述CPU内第一寄存器所存储的所述DRAM的起始物理地址累加
    一固定值,以形成下一个起始物理地址;
    步骤(h):判断所述下一个起始物理地址是否小于所述CPU内第二寄存器所存储的所述
    DRAM的结束物理地址;
    步骤(i):若所述下一个起始物理地址小于所述CPU内第二寄存器所存储的所述DRAM的
    结束物理地址,则将测试字组数据写入到所述下一个起始物理地址上,并返回步骤(e)以继
    续测试;及
    步骤(j):若所述下一个起始物理地址大于或等于所述CPU内第二寄存器所存储的所述
    DRAM的结束物理地址,则返回测试结果并结束测试程序。
    2.如权利要求1所述的动态随机存取存储器的测试方法,其特征在于
    ,所述方法中将所述DRAM存储的测试程序复制到所述RAM的步骤包括:
    将所述RAM的空闲区域的起始物理地址存储于所述CPU内的第三寄存器;
    将所述DRAM测试程序所占用的所述DRAM区域中的起始物理地址存储于所述CPU内的第四
    寄存器;
    将所述DRAM测试程序所占用的所述DRAM区域中的结束物理地址存储于所述CPU内的第五
    寄存器;
    将所述DRAM测试程序复制到所述CPU内的第三寄存器所存储的所述RAM的空闲区域的起
    始物理地址上;
    将所述CPU内的第三寄存器所存储的所述RAM的空闲区域的起始物理地址加一固定值,
    以形成新的起始物理地址;
    将所述CPU内的第四寄存器所存储的所述起始物理地址累加一相同的固定值;
    判断累加后的所述CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址是否小于所述CPU内的第
    五寄存器所存储的所述结束物理地址;
    若累加后的所述CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址小于所述CPU内的第五寄存
    器所存储的所述结束物理地址,则继续将所述DRAM测试程序复制到所述CPU内的第三寄存器
    所存储的所述RAM的空闲区域的新的起始物理地址上;及
    若累加后的所述CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址大于或等于所述CPU内的第
    五寄存器所存储的所述结束物理地址,则停止复制。
    3.如权利要求1或2所述的动态随机存取存储器的测试方法,其特征
    在于,所述固定值为4。
    4.如权利要求1所述的动态随机存取存储器的测试方法,其特征在于
    ,所述方法还包括启动测试程序对所述DRAM进行测试,其中,所述CPU内的第六寄存器存储
    有返回的物理地址。
    5.如权利要求4所述的动态随机存取存储器的测试方法,其特征在于
    ,所述方法还包括将所述CPU内的第六寄存器所存储的返回物理地址存储于所述DRAM中的堆
    栈(stack)。
    6.如权利要求1所述的动态随机存取存储器的测试方法,其特征在于
    ,若从所述DRAM的起始物理地址上所读取的测试字组数据与写入的测试字组数据不相同,则
    返回测试失败结果并结束测试程序。

    说明书

    动态随机存取存储器的测试方法

    技术领域

    本发明涉及网络测试,尤其涉及一种动态随机存取存储器的测试方法。

    背景技术

    3C电子产品在出货之前一般会在生产线上由产品执行程式做自我检测(Self-testing)
    ,例如做动态随机存取存储器(Dynamic?Random?Access?Memory,DRAM)测试,以检测
    DRAM内部单元中是否有损坏或者其外部电路是否有线路发生断路或短路等现象,在现有技术
    中,DRAM的测试一般是利用DRAM的测试文件对DRAM的各个区域分别进行写入、读取及对比操
    作,然而,由于DRAM的测试文件本身是存储于待测的DRAM内,因此,DRAM的测试文件本身所
    占用的那块DRAM区域就无法直接测试,从而导致测试结果的不全面,不精确。

    发明内容

    有鉴于此,需提供一种动态随机存取存储器的测试方法,能对动态随机存取存储器的所
    有区域进行全面的检测,且能提高测试结果的精确度。

    本发明实施方式所提供的动态随机存取存储器(DRAM)的测试方法,用于对DRAM的所有
    区域进行全面的检测,其中,所述DRAM位于系统芯片(System?on?Chip,SoC)的外部,所
    述DRAM存储有测试程序,所述SoC包括中央处理器(CPU)及随机存取存储器(RAM),所述
    CPU包括有多个寄存器,包括以下步骤:将所述DRAM存储的测试程序复制到所述RAM;将所述
    DRAM的起始物理地址存储于所述CPU内的第一寄存器;将所述DRAM的结束物理地址存储于所
    述CPU内的第二寄存器;将测试字组数据写入到所述CPU内的第一寄存器所存储的所述DRAM的
    起始物理地址上;从所述DRAM的起始物理地址上读取所述测试字组数据;比较并判断从所述
    DRAM的起始物理地址上读取的所述测试字组数据是否与写入的测试字组数据相同;若相同,
    则将所述CPU内第一寄存器所存储的所述DRAM的起始物理地址累加一固定值,以形成下一个
    起始物理地址;判断所述下一个起始物理地址是否小于所述CPU内第二寄存器所存储的所述
    DRAM的结束物理地址;若所述下一个起始物理地址小于所述CPU内第二寄存器所存储的所述
    DRAM的结束物理地址,则将测试字组数据写入到所述下一个起始物理地址上,以继续测试;
    及若所述下一个起始物理地址大于或等于所述CPU内第二寄存器所存储的所述DRAM的结束物
    理地址,则返回测试结果并结束测试程序。

    本发明实施方式所提供的动态随机存取存储器的测试方法,能对动态随机存取存储器的
    所有区域进行全面的检测,且能提高测试结果的精确度。

    附图说明

    图1为本发明一实施方式中的应用结构示意图。

    图2为本发明一实施方式中的方法流程图。

    图3为本发明一实施方式中步骤S202的详细流程图。

    具体实施方式

    请参阅图1,所示为本发明一实施方式中的应用结构示意图。在本实施方式中,系统芯
    片(System?on?Chip,SoC)10包括中央处理单元(Central?Processing?Unit,CPU)102以
    及随机存取存储器(Random?Access?Memory,RAM)104,动态随机存取存储器(DRAM)20位
    于SoC?10的外部,并存储有DRAM的测试程序20。

    在本实施方式中,SoC芯片中包含有内部的RAM,可用来存储DRAM的测试程序数据,CPU
    包括多个寄存器(register),不同的寄存器可用来存储不同的运算指令,其中,SoC芯片
    是通过系统总线与SoC芯片外部的DRAM进行通信。

    请参阅图2,所示为本发明一实施方式中的方法流程图。

    在步骤S202中,在进行DRAM测试之前,先将DRAM的测试程序复制到SoC芯片内部的RAM中
    。在本实施方式中,其复制的具体步骤如图3所示。

    请参阅图3,所示为本发明一实施方式中步骤S202的详细流程图。

    在步骤S2020中,将RAM的空闲区域的起始物理地址存储于CPU内的第三寄存器。在本实
    施方式中,CPU内包括有多个寄存器。

    在步骤S2021中,将DRAM测试程序所占用的DRAM区域中的起始物理地址存储于CPU内的第
    四寄存器。

    在步骤S2022中,将DRAM测试程序所占用的DRAM区域中的结束物理地址存储于CPU内的第
    五寄存器。

    在步骤S2023中,将DRAM测试程序复制到CPU内的第三寄存器所存储的RAM的空闲区域的
    起始物理地址上。在本实施方式中,每次以4个字节的方式将DRAM测试程序复制到CPU内的第
    三寄存器所存储的RAM的空闲区域的起始物理地址上。在其它的实施方式中,亦可以以其他
    方式进行复制。

    在步骤S2024中,将CPU内的第三寄存器所存储的RAM的空闲区域的起始物理地址加一固
    定值,以形成新的起始物理地址。

    在步骤S2025中,将CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址累加一相同的固定值。在
    本实施方式中,所述固定值为4,即将第三寄存器所存储的RAM的空闲区域的起始物理地址加
    4个字节,以形成新的起始物理地址,将第四寄存器所存储的DRAM测试程序的起始物理地址
    加4个字节。

    在步骤S2026中,判断累加后的CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址是否小于CPU
    内的第五寄存器所存储的结束物理地址。

    若累加后的CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址小于CPU内的第五寄存器所存储的
    结束物理地址,则继续将DRAM测试程序复制到CPU内的第三寄存器所存储的RAM的空闲区域的
    新的起始物理地址上。在本实施方式中,也即返回到步骤S2023中,继续以每次以4个字节的
    方式将DRAM测试程序复制到CPU内的第三寄存器所存储的RAM的空闲区域的新的起始物理地址
    上。

    若累加后的CPU内的第四寄存器所存储的起始物理地址大于或等于CPU内的第五寄存器所
    存储的结束物理地址,则停止复制,并返回DRAM,如步骤S2027所示。

    请继续参阅图2,在步骤S204中,启动测试程序进行测试。在本实施方式中,在操作系
    统内核运行之前往往会运行一段引导加载程序(Boot?loader),在运行Boot?loader中会提
    示用户是否需要对DRAM进行测试,如果用户选择对DRAM进行测试,则启动DRAM测试程序进行
    测试,同时,CPU内的第四寄存器存储有返回地址,以便在结束测试时返回到原Boot?
    loader,在开始测试时,利用PUSH指令将该返回地址存储到DRAM的堆栈(Stack)中。

    在步骤S206中,将DRAM的起始物理地址和结束物理地址分别存储于CPU内的第一寄存器
    和第二寄存器。

    在步骤S208中,将测试字组数据写入到CPU内的第一寄存器所存储的DRAM的起始物理地
    址上。在本实施方式中,在将测试字组数据写入到CPU内的第一寄存器所存储的DRAM的起始
    物理地址上之前,可以先将CPU内第一寄存器所存储的DRAM的起始物理地址载入(load)到
    CPU内的另一寄存器,以达到备份的目的。

    在步骤S210中,从DRAM的起始物理地址上读取所述测试字组数据。在本实施方式中,该
    测试字组为一固定的字组,用于对所有的DRAM区域进行统一测试,例如,测试字组既可以为
    十六进制的A5A5A5A5(4个字节)形式,也可以为二进制的10101010(1个字节)形式。在本
    实施方式中,若在步骤S208中有进行备份操作,即若在将测试字组数据写入到CPU内的第一
    寄存器所存储的DRAM的起始物理地址上之前,先将CPU内第一寄存器所存储的DRAM的起始物
    理地址载入(load)到CPU内的另一寄存器时,则在本步骤S210之后,还需将CPU内的另一寄
    存器所存储的DRAM的起始物理地址写回CPU内的第一寄存器,以达到还原的目的。

    在步骤S212中,比较并判断从DRAM的起始物理地址上读取的测试字组数据是否与写入的
    测试字组数据相同。

    在本实施方式中,若从DRAM的起始物理地址上读取的测试字组数据与写入的测试字组数
    据相同,则将CPU内第一寄存器所存储的DRAM的起始物理地址累加一固定值,以形成下一个
    起始物理地址,如步骤S214所示。例如,在本实施方式中,如果测试字组为A5A5A5A5的十六
    进制形式,则当从该CPU内的第一寄存器中读取的数据为A5A5A5A5的十六进制形式时,表明
    读取的数据与测试字组数据相同,此时,将CPU内第一寄存器所存储的起始物理地址加上4个
    字节,以形成下一个起始物理地址并继续测试。

    在本实施方式中,当读取的数据与测试字组数据不同时,则表明被测的DRAM区域测试失
    败,如步骤S220所示,则返回测试结果为失败,并结束测试程序。

    在步骤S216中,判断所述下一个起始物理地址是否小于CPU内第二寄存器所存储的DRAM
    的结束物理地址。在本实施方式中,每次测试DRAM的4个字节的区域,每次测完之后,当读
    取的数据与测试字组数据相同时,就将DRAM的起始物理地址累加4个字节,以形成下一个起
    始物理地址,然后判断所述下一个起始物理地址是否小于DRAM的结束物理地址。

    在本实施方式中,若所述下一个起始物理地址小于CPU内第二寄存器所存储的DRAM的结
    束物理地址,则返回到步骤S208中,将测试字组数据写入到所述下一个起始物理地址上,以
    继续测试。

    若所述下一个起始物理地址大于或等于CPU内第二寄存器所存储的DRAM的结束物理地址
    ,则返回测试结果为成功,并结束测试程序,如步骤S218所示,在完成DRAM的全面检测之后
    ,在本实施方式中,利用POP指令从DRAM的Stack中读取所存储的返回地址,同时配合使用
    JUMP指令及返回地址以便在结束测试时返回到原Bootloader。

    本发明实施方式所提供的动态随机存取存储器的测试方法,通过将存储于SoC芯片外部
    DRAM中的DRAM测试程序本身复制到该SoC芯片内部RAM中,然后将复制后的DRAM测试程序在
    SoC芯片外部的所有DRAM区域做写入/读取/对比操作以达到对外部的所有DRAM区域进行全面
    的检测的目的,且能提高测试结果的精确度。

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