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    键盘 测试 系统
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    摘要
    申请专利号:

    CN201010131225.2

    申请日:

    2010.03.03

    公开号:

    CN102193849A

    公开日:

    2011.09.21

    当前法律状态:

    驳回

    有效性:

    无权

    法律详情: 发明专利申请公布后的驳回IPC(主分类):G06F 11/22申请公布日:20110921|||实质审查的生效IPC(主分类):G06F 11/22申请日:20100303|||公开
    IPC分类号: G06F11/22; G06F11/267 主分类号: G06F11/22
    申请人: 神讯电脑(昆山)有限公司
    发明人: 李叶胜
    地址: 215300 江苏省昆山市出口加工区第二大道269号
    优先权:
    专利代理机构: 代理人:
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    法律状态
    申请(专利)号:

    CN201010131225.2

    授权公告号:

    ||||||

    法律状态公告日:

    2017.09.08|||2013.03.27|||2011.09.21

    法律状态类型:

    发明专利申请公布后的驳回|||实质审查的生效|||公开

    摘要

    一种键盘测试系统,用于对一主板的键盘功能进行检测,其包括:一控制单元,用于输出一执行指令;一微处理器,用于接收该执行指令,并根据该执行指令依次输出若干控制信号;一键盘开关单元,包括若干电子开关,用于分别接收该微处理器输出的若干控制信号并依次导通;一键盘接口,与该键盘开关单元的若干电子开关相连;以及一主板,包括一键盘接口电路,该键盘接口电路通过该键盘接口与该键盘开关单元的若干电子开关相连,当该键盘单元内的若干电子开关依次导通后该主板依次输出对应按键的编码信息。本发明键盘测试系统无需通过人工敲打键盘上所有的按键进行检测,因此,可提高检测效率及检测速度,以及节省人力成本。

    权利要求书

    1.一种键盘测试系统,用于对一主板的键盘功能进行检测,其特征在于,该键盘测试系统包括:一控制单元,用于输出一执行指令;一微处理器,与该控制单元相连,用于接收该执行指令,并根据该执行指令依次输出若干控制信号;一键盘开关单元,与该微处理器相连,该键盘开关单元包括若干电子开关,该若干电子开关用于分别接收该微处理器输出的若干控制信号并依次导通;一键盘接口,与该键盘开关单元的若干电子开关相连;以及一主板,包括一键盘接口电路,该键盘接口电路通过该键盘接口与该键盘开关单元的若干电子开关相连,当该键盘开关单元内的电子开关依次导通时该主板依次输出对应按键的编码信息。2.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:还包括一比较单元,与该主板相连,该比较单元用于存储一标准编码信息,并将该主板输出的按键编码信息与该标准编码信息进行比对,以及根据比对结果输出一指示信号。3.如权利要求2所述的键盘测试系统,其特征在于:还包括一指示单元,与该比较单元相连,用于接收该比较单元输出的指示信号并进行指示。4.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:还包括一显示屏,与该主板相连,用于显示该主板输出的对应按键的编码信息。5.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:该控制单元包括一控制开关,该控制开关的第一端接地,其第二端通过一电阻与该微处理器相连。6.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:该键盘开关单元包括十六个电子开关。7.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:每一该电子开关为一金属氧化物半导体场效应管。8.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:每一该电子开关为一三极管。9.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:该若干电子开关为金属氧化物半导体场效应管及三极管之组合。10.如权利要求1所述的键盘测试系统,其特征在于:该主板上对应的按键为一笔记本电脑上的END键、HOME键、左SHIFT键、{键、%键、(键、F9键、*键、@键、E键、左WIN键、左ALT键、右WIN键、右CTRL键、F1键以及FN键。

    说明书

    键盘测试系统

    【技术领域】

    本发明涉及一种测试系统,特别涉及一种应用于一便携式电子产品如一笔记本电脑的键盘测试系统。

    【背景技术】

    键盘是计算机主要的输入设备,对键盘进行功能测试以确保键盘能够正常输入在计算机制造领域是必不可少的。

    键盘主要由内部控制电路及外部按键组成。键盘内部的按键排线一般采取矩阵式排列,由行信号线与列信号线组成,如图1所示(仅以4×4键盘为例),行列信号线在交叉点处没有直接相交,而通过设置一个开关选择性地导通,每一开关对应键盘外部的一个按键。当键盘上有按键被按下时,其对应的开关导通,因而对应的行列信号线被短路,然后通过键盘扫描电路得到该按键的编码信息。

    笔记本电脑的键盘控制电路是设置在主板上的,由主板来实现键盘功能。目前,各家笔记本电脑厂商一般还是采取人工方式对笔记本电脑的键盘进行测试,即作业员逐个按下键盘上所有的按键进行测试。一般笔记本电脑的键盘由84个按键组成,若敲打一个按键以1秒的时间计算,则测试整个笔记本电脑的键盘大概需要80多秒的时间,因此,检测效率不高;而且人工检测容易因为检测人员的疏忽导致检测错误,因此,检测精度也不高;另外,人工检测需要大量人力,且在检测过程中会产生键盘的损耗费用,因此,成本比较高。

    【发明内容】

    有鉴于此,本发明的目的在于提供一种检测效率及检测精度比较高、成本比较低的键盘测试系统。

    为达到上述目的,本发明键盘测试系统,用于对一主板的键盘功能进行检测,其特征在于,该键盘测试系统包括:

    一控制单元,用于输出一执行指令;

    一微处理器,与该控制单元相连,用于接收该执行指令,并根据该执行指令依次输出若干控制信号;

    一键盘开关单元,与该微处理器相连,该键盘开关单元包括若干电子开关,该若干电子开关分别接收该微处理器输出的若干控制信号并依次导通;

    一键盘接口,与该键盘开关单元的若干电子开关相连;以及

    一主板,包括一键盘接口电路,该键盘接口电路通过该键盘接口与该键盘开关单元的若干电子开关相连,当该键盘开关单元内的若干电子开关依次导通时该主板依次输出对应按键的编码信息。

    相对于现有技术,本发明提供的键盘测试系统通过该微处理器控制该键盘开关单元中的若干电子开关依次导通,使主板依次输出对应按键的编码信息,从而根据主板输出的编码信息判断该主板的键盘功能是否正常。本发明键盘测试系统无需通过人工敲打键盘上的所有按键进行检测,因此,检测效率及检测速度比较高,且因节省人力及键盘损耗费用而降低了成本。

    【附图说明】

    图1绘示现有键盘内部的按键排线示意图。

    图2绘示本发明键盘测试系统所应用的一笔记本电脑的外观示意图。

    图3绘示本发明键盘测试系统的较佳实施方式的内部方框图。

    图4绘示本发明键盘测试系统中测试单元的较佳实施方式的电路图。

    【具体实施方式】

    下面结合附图说明及较佳实施方式对本发明作进一步详细描述:

    请参考图2及图3,本发明键盘测试系统的较佳实施方式用于对一笔记本电脑1的键盘2进行功能测试。该键盘测试系统包括一测试单元100、一主板200、一比较单元300及一指示单元400。该测试单元100包括一控制单元110、一微处理器120、一键盘开关单元130以及一键盘接口140。该主板200包括一键盘接口电路210。该主板200设置在该笔记本电脑1内。

    请参考图4,该控制单元110包括一控制开关SW1、两电阻R1、R2以及两电容C1、C2。在本较佳实施方式中,该控制开关SW1为一按键开关。该控制开关SW1的第一端1接地,并通过该电容C1与其第二端2相连。该控制开关SW1的第二端2通过该电阻R1接一电源VCC,并通过该电阻R2与该微处理器120相连。该控制开关SW1的第二端2还通过该电容C2接地。

    该微处理器120为一可编程集成电路控制芯片,比如为一型号为80C51的控制芯片。该微处理器120包括第一组输入输出引脚P1.0-P1.7、第二组输入输出引脚P2.0-P2.7以及一第三输入输出引脚P3.0。该微处理器120的第三输入输出引脚P3.0通过该电阻R2与该控制开关SW1的第二端2相连。该微处理器120的第一组输入输出引脚P1.0-P1.7与第二组输入输出引脚P2.0-P2.7与该键盘开关单元130相连。另外,为保证该微处理器120可正常工作,该微处理器120还应包括其它引脚如电源引脚、接地引脚以及时钟引脚等,以及该等引脚所对应连接的电路如电源电路、时钟电路等,此为现有技术,在此不再赘述。

    该键盘开关单元130包括十六个MOS(Metal?Oxide?Semiconductor,金属氧化物半导体)场效应管Q1-Q16。每一MOS场效应管Q1-Q16的栅极分别与该第一组输入输出引脚P1.0-P1.7及第二组输入输出引脚P2.0-P1.7对应相连,并分别通过一电阻R3与其对应的源极相连。每一MOS场效应管Q1-Q16的源极分别与该键盘接口140对应的一输入引脚相连。每一MOS场效应管Q1-Q16的漏极分别通过一电阻R4与该键盘接口140对应的一输出引脚相连。在其它实施方式中,该十六个MOS场效应管Q1-Q16还可为其它电子开关,如三极管,也可以是MOS场效应管与三极管等不同电子开关之组合。

    该键盘接口140可为一连接器,其包括八个输入引脚KI0-KI7以及十六个输出引脚KO0-KO15。该键盘接口140的输入引脚KI0-KI7及输出引脚KO0-KO15与该主板200的键盘接口电路210相连。在本较佳实施方式中,每一MOS场效应管Q1-Q16的源极及漏极均对应该键盘接口140的一输入引脚及一输出引脚,但,任意两个MOS场效应管的漏极及源极所连接的键盘接口140的输入引脚及输出引脚不完成相同,即如果有两个MOS场效应管的源极连接到该键盘接口140的同一个输入引脚,则该两个MOS场效应管的漏极所连接的键盘接口140的输出引脚一定不同,从而可控制笔记本电脑1的键盘2上不同的按键。

    请再次参考图1,图1是以4×4的键盘矩阵排列形式为例,其按键排线由四条行信号线P1-P4及四条列信号线L1-L4组成。该4×4的排列形式共产生十六个交叉点,每一交叉点处均设置有一按键开关。现以行信号线P1、P12及列信号线L1、L2为例,行信号线P1与列信号线L1的交叉点上设置有一按键开关K1,行信号线P2及列信号线L2的交叉点上设置有一按键开关K2。根据图1分析得知,若该按键开关K1工作正常便可确定该行信号线P1与列信号线L1工作正常;若该按键开关K2工作正常便可确定该行信号线21及列信号线22工作正常。因此,在图1中,只需要确定按键开关K1、K2、K3、K4工作正常便可确定图1中其它的按键也可正常工作,因无需对每一按键进行检测。

    基于上述分析并结合该笔记本电脑1的内部按键排线形式得知,该笔记本电脑1的键盘2上的END键、HOME键、左SHIFT键、{键、%键、(键、F9键、*键、@键、E键、左WIN键、左ALT键、右WIN键、右CTRL键、F1键、FN键等十六个按键在按键排线中所处的位置与图1中的按键开关K1、K2、K3、K4一致。因此,只需对上述十六个按键进行测试便可确定整个键盘2是否可正常工作,而无需对笔记本电脑1的键盘2上的所有按键一一进行测试。

    因此,本发明键盘测试系统通过该键盘开关单元130内的十六个MOS场效应管Q1-Q16分别控制该键盘2的END键、HOME键、左SHIFT键、{键、%键、(键、F9键、*键、@键、E键、左WIN键、左ALT键、右WIN键、右CTRL键、F1键、FN键等十六个按键,即用十六个MOS场效应管Q1-Q16模拟上述十六个按键被按下的情景。比如,该MOS场效应管Q1被用于控制该键盘2上的END键时,则当该MOS畅销管Q1导通时即表示该键盘2上的END键被按下,则该END键所在的行信号线及列信号线被短路,从而输出该END键的按键编码信息。

    因此,本发明键盘测试系统中的微处理器120还对应存储有一测试程序,使第一组输出引脚P1.0-P1.7及第二组输入输出引脚P2.0及P2.7能够依次输出高电平的控制信号控制对应的MOS场效应管Q1-Q16依次导通,从而使该主板200上的上述十六个按键所对应的行列信号线依次被短路,以输出上述十六个按键的编码信息。

    该比较单元300用于存储一标准编码信息,即当该键盘2上的END键、HOME键、左SHIFT键、{键、%键、(键、F9键、*键、@键、E键、左WIN键、左ALT键、右WIN键、右CTRL键、F1键、FN键等十六个按键在正常工作时所输出的编码信息。该比较单元300还用于将测试时该主板200输出的按键编码信息与该标准编码信息进行比对,以确认该主板200的键盘功能是否正常,并根据比较结果输出一指示信号给该指示单元400。该指示单元400根据该指示信号进行指示以表明该主板200的键盘功能是否正常。其中,该指示单元400可为一蜂鸣器或一指示灯。

    本发明键盘测试系统的具体工作过程如下:在一般情况下,该微处理器120的第三输入输出引脚P3.0被该电源VCC拉成高电平。当要对笔记本电脑1的键盘2进行功能测试时,按下控制单元100中的控制开关SW1使该微处理器120的输入输出引脚P3.0通过电阻R2接地,从而提供一低电平信号作为执行指令提供给该微处理器120的第三输入输出引脚P3.0,该微处理器120接收到该执行指令后便开始执行其内部存储的测试程序,该微处理器120的第一组输入输出引脚P1.0-P1.7及第二组输入输出引脚P2.0-P2.7便依次输出高电平的控制信号控制十六个MOS场效应管Q1-Q16依次导通,从而使该主板200依次输出END键、HOME键、左SHIFT键、{键、%键、(键、F9键、*键、@键、E键、左WIN键、左ALT键、右WIN键、右CTRL键、F1键、FN键等十六个按键的编码信息。

    当微处理器120内部的测试程序执行结束后,该比较单元300将该主板200输出的编码信息与内部存储的标准编码信息进行比对,若主板200输出的按键编码信息与该标准编码信息一致,则比较单元200输出一指示信号给该指示单元400,该指示单元400根据该指示信号进行指示以表明该主板200的键盘功能正常。若主板200输出的编码信息与标准编码信息不一致,则比较单元200输出另一指示信号给该指示单元400,该指示单元400根据该另一指示信号进行指示以表明该主板200的键盘功能不正常。

    在其它实施方式中,本发明键盘测试系统还可包括一显示屏,与该主板200相连,用于显示该标准编码信息以及测试过程中该主板200输出的按键编码信息,从而可更直观地了解该键盘测试系统的测试结果。因此,在其它实施方式中,该比较单元300及指示单元400也可被省略,而直接根据该主板200输出的按键编码信息来判断该主板200的键盘功能是否正常。

    另外,由于不同笔记本电脑的键盘的按键在按键排线中所处的位置可能不同,因此,在其它实施方式中,该十六个MOS场效应管Q1-Q16也可用于控制另一种笔记本电脑键盘上的其它按键,只要该等按键在按键排线中所处的位置与本实施方式中该笔记本电脑1的END键、HOME键、左SHIFT键、{键、%键、(键、F9键、*键、@键、E键、左WIN键、左ALT键、右WIN键、右CTRL键、F1键、FN键所处的位置相同即可。另外,本发明键盘测试系统还可用于测试其它便携式电子产品的主板的键盘功能,如手机,PDA(Personal?Digital?Assistant,个人工作助理)等,其测试原理与上述相同。

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